DOI: 10.15330/pcss.16.2.289-292

Б.І. Ільків¹, С.С. Петровська¹, Р.А. Сергієнко², О.О. Фоя¹, О.В. Ільків³, Т.М. Бондаренко¹, Етсуро Шібата⁴, Такаші Накамура⁴, Я.В. Зауличний¹, ³

Дослідження електронної структури графенових нанолистів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії

¹Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, вул. Кржижановського, 3, Київ 03680, Україна, b_ilkiv@ukr.net
²Фізико-технологічний інститут металів і сплавів НАН України, бульвар Вернадського, 34, 03068, Україна, rsruslan17@gmail.com
³Національний технічний університет України «КПІ» вул. Політехнічна, 35, м. Київ 03056, Україна
⁴Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials (IMRAM), Tohoku University Sendai 980-8577, Japan

Дослідження графенових нанолистів та окислених графенових нанолистів, було проведене методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії (РФС). На додаток до рентгенівської фотоелектронної спектроскопії зразки досліджували методами скануючої та просвічуючуючщї мікроскопії. Встановлено, що аргонне бомбардування усуває функціональні карбоксильні та епоксидні групи зі зразків. Відсутність емісійних ОKα-смуг в ОГНЛ та ГНЛ пов’язана з видаленням зі зразка кисню в результаті електронного бомбардування при дослідженні зразка методом ультрам‘якої рентгенівської емісійної спектроскопії.
Ключові слова: рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, електронна структура, графенові нанолисти, окислені графенові нанолисти/

 Література

[1] K.S. Novoselov, A.K. Geim, S.V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S.V. Dubonos, I.V. Grigorieva, A.A. Firsov, Science 306, 666 (2004).
[2] P. Blake, P.D. Brimicombe, R.R. Nair, T.J. Booth, D. Jiang, F. Schedin, et al., Nano Lett. 8(6), 1704 (2008).
[3] L.A. Ponomarenko, F. Schedin, M.I. Katsnelson, R. Yang, E.W. Hill, K.S. Novoselov, A.K. Geim, Science, 320(5874), 356 (2008).
[4] S. Stankovich, D.A. Dikin, G.H.B. Dommett, K.M. Kohlhaas, E.J. Zomney, E.A. Stach, R.D. Piner, S.T. Nguyen, R.S. Ruoff, Nature 442, 282 (2006).
[5] M.D. Stoller, S. Park, Y. Zhu, R.S. Ruoff, Nano Lett. 8, 3498 (2008).
[6] Ilkiv Bogdan, Petrovska Svitlana, Sergiienko Ruslan, Tomai Takaaki, Shibata Etsuro, Nakamura Takashi, Honma Itaru, Zaulychnyy Yaroslav, Journal of Nanoscience and Nanotechnology 12(12), 8913 (2012).
[7] A. Bostwick, J. McChesney, T. Ohta, E. Rotenberg, T. Seyller, K. Horn, Progress in Surface Science 84, 380 (2009).
[8] V. Lee, L. Whittaker, C. Jaye, K.M. Baroudi, D.A. Fischer, S. Banerjee, Chem. Mater. 21, 3905 (2009).
[9] N.A. Vinogradov, K. Schulte, M.L. Ng, A. Mikkelsen, E. Lundgren, N. Martensson, A.B. Preobrajenski, J. Phys. Chem. 115, 9568 (2011).
[10] D. Ferrah, J. Penuelas, C. Bottela, G. Grenet, A. Ouerghi, Surface Science 615, 47 (2013).
[11] A. Siokou, F. Ravani, S. Karakalos, O. Frank, M. Kalbac, C. Galiotis, Applied Surface Science 257, 9785 (2011).
[12] B. Lesiak, L. Stobinski, A. Malolepszy, M. Mazurkiewicz, L. Kövér, J. Tóth, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 193, 92 (2014).
[13] W.S. Hummers, R.E. Offeman, J. Am. Chem. Soc. 80(6), 1339 (1958).
[14] S.J. Wang, Y. Geng, Q. Zheng, J.-K. Kim, Carbon 48, 1815 (2010).
[15] H.C. Schniepp, J.-L. Li, M.J. McAllister, H. Sai, M. Herrera-Alonso, D.H. Adamson, R.K. Prud’homme, R. Car, D.A. Saville, I.A. Aksay, J. Phys. Chem. B, 110(17), 8535 (2006).