DOI: 10.15330/pcss.16.3.515-519

А.М. Дацюк

Вплив точкового дефекту вуглецевої нанотрубки типу (8,0) на розподіл молекулярного електростатичного потенціалу в околі її порту

Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України, вул. Ген. Наумова,17, 03164, Київ, Україна, E-mail:andriy-datsyuk@ukr.net

В роботі проаналізовано вплив точкового дефекту на електронну та просторову будову модельної вуглецевої нанотрубки (8,0) в залежності від розміщення вакансії в структурі нанотрубки. На основі проведених квантовохімічних розрахунків, використовуючи напівемпіричні та неемпіричні підходи, побудовано карти розподілу молекулярного електростатичного потенціалу в площині, перпендикулярній головній осі нанотрубки. Показано, що дефекти типу «вакансія», які розміщуються за межами першого гексагонального вуглецевого пояса практично не впливають на топологію розподілу молекулярного електростатичного потенціалу в околі входу в вуглецеву нанотрубку, натомість хімічну активність портових атомів такої нанотрубки можуть визначати точкові дефекти вакансійного типу, що розміщуються в першому гексагональному поясі.
Ключові слова: вуглецеві нанотрубки, молекулярний електростатичний потенціал, точковий дефект, квантовохімічні розрахунки.

 Література

[1] S. Iijima, Nature 354, 56 (1991).
[2] K. Tanaka,S. Iijima (Ed.), Carbon Nanotubes and Graphene, Elsevier, 2014.
[3] A.В. Елецкий, Успехи физ. наук 167(9), 945 (1997).
[4] Э.Г. Раков, Успехи химии, 69(1),41 (2000).
[5] M.S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, P.C. Eklund, Science of Fullerenes and Carbon Nanotubes (Academic Press, 1996).
[6] S. Ghosh, V. Padmanabhan, Diamond & Related Materials 59, 47 (2015).
[7] C. Tabtimsai, S. Keawwangchai, N. Nunthaboot, V. Ruangpornvisuti, B. Wanno, J. Mol. Model 18(8), 3941 (2012).
[8] M. Canadija, J. Brnic, ProcediaEngineering 100, 213 (2015).
[9] А.М. Дацюк,Т.Ю. Громовой, В.В. Лобанов, Теорет. эксперим. химия 40(5), 269 (2004).
[10] В.В. Лобанов, Ю.И. Горлов., А.А. Чуйко и др. Роль электростатических взаимодействий в адсорбции на поверхности твердых оксидов (ВЕК, Киев, 1999).
[11] J.J.P. Stewart, J. Mol. Model 10, 155 (2004).
[12] E.R. Davidson, D. Feller, Chem. Rev. 86(4), 681 (1986).
[13] A.A. Granovsky, Fireflyversion 8.1.0.G, www. http://classic.chem.msu.su/gran/firefly/index.html .
[14] А.М. Дацюк, И.Г. Сидоренко, В.В. Лобанов, Химия, физика и технология поверхности13, 239 (2007).