DOI: 10.15330/pcss.16.3.475-480

Т.М. Сабов, В.А. Нікірін, І.М. Хацевич , О.Й. Гудименко, В.П. Мельник, Б.М. Романюк, В.М. Телега

Властивості електрохромної комірки на основі WO₃ та NiO: вплив іонного провідника

Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, 03680, м. Київ, пр-т Науки 41, e-mail:khacevich@rambler.ru

Електрохромні плівки WO3 та NiO осаджувались методом магнетронного розпилення на покриту оксидом індія-олова (ІТО – indium tin oxide) скляну підкладку. Структурні властивості плівок досліджувались методами скануючої електронної мікроскопії та Х-променевої дифракції. Електрохромні властивості плівок аналізувалися шляхом вимірювання циклічних вольтамперограм з використанням різного типу іонних провідників. Використання водних електролітів та електролітів на основі пропілен карбонату приводить до руйнування електрохромних комірок. Стабільно працююча електрохромна комірка на базі плівок WO₃ та NiO була отримана з використанням іонної рідини в якості іонного провідника. Ефективність забарвлення електрохромної комірки на базі аморфної плівки WO₃ та кристалічної плівки NiO складає 28,7 cм²/Кл.
Ключові слова: оксид вольфраму, оксид нікелю, електрохромна комірка, іонний провідник.

 Література

[1] C.G. Granqvist, Thin Solid Films 564, 1 (2014).
[2] R.D. Rauh, Electrochimica Acta 44, 3165 (1999).
[3] D.S. Dalavia, M.J. Suryavanshi, D.S. Patil [et al.], Appl. Surf. Sci. 257(7), 2647 (2011).
[4] C.G. Granqvist, Solar Energy Materials and Solar Cells. 92, 203 (2008).
[5] S. Green, J. Backholm, P. Georen [et al.], Solar Energy Materials and Solar Cells 93, 2050 (2009).
[6] E. Avendano, L. Berggren, G.A. Niklasson [et al.], Thin Solid Films 496, 30 (2006).
[7] A. Antonaia, M.L. Addonizio, C. Minarini [et al.], Electrochimica Acta 46, 2221 (2001).
[8] H. Qu, X. Zhang, L. Pan [et al.], Electrochimica Acta 148, 46 (2014).
[9] M.M. El-Nahass, M.M. Saadeldin, H.A. M. Ali [et al.], Materials Science in Semiconductor Processing 29, 201 (2015).
[10] J. Xue, Y. Zhu, M. Jiang [et al.], Materials Letters 149, 127 (2015).
[11] W. Li, A. Sasaki, H. Oozu [et al.], Microelectronics Reliability 55, 407 (2015).
[12] R.T. Wen, G. A. Niklasson, C. G. Granqvist, Thin Solid Films 565, 128 (2014).
[13] S. Pereira, A. Gonçalves, N. Correia [et al.], Solar Energy Materials and Solar Cells 120, 109 (2014).
[14] X. Song, G. Dong, F. Gao [et al.], Vacuum 111, 48 (2015).
[15] Y. Ren, W. Kin Chim, L. Guo [et al.], Solar Energy Materials and Solar Cells 116, 83 (2013).
[16] H. Moulki, C. Faure, M. Mihelcic [et al.], Thin Solid Films 553, 63 (2014).
[17] S.R Jiang, B.X Feng, P.X Yan [et al.], Applied Surface Science 174, 125 (2001).
[18] M. J. Neto, R. Leones, F. Sentanin [et al.], Journal of Electroanalytical Chemistry 714, 63 (2014).
[19] F. Lin, D. T. Gillaspie, A. C. Dillon [et al.], Thin Solid Films 527, 26 (2013).